| 產(chǎn)品圖片 |
產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào) |
產(chǎn)品描述 |
-
電容式開(kāi)關(guān)基于射頻（RF）電容技術(shù)。將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
電容式水位開(kāi)關(guān)基于射頻（RF）電容技術(shù)。將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
電容式感應(yīng)開(kāi)關(guān)基于射頻（RF）電容技術(shù)。將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
電容式物位開(kāi)關(guān)基于射頻（RF）電容技術(shù)。將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
電容式液位計(jì)基于射頻（RF）電容技術(shù)。將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
電容液位變送（顯示）器,將一個(gè)無(wú)線電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定由周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。
-
LS系列電容式物位開(kāi)關(guān)是利用各種物質(zhì)與空氣介電常數(shù)不同的特性原理檢測(cè)有料或無(wú)料時(shí)的
電容變化來(lái)探測(cè)物料的。為解決探測(cè)時(shí)掛料產(chǎn)生虛假信號(hào)問(wèn)題，在探測(cè)電極上加了一個(gè)等電位保護(hù)
套，使粘附層對(duì)探測(cè)電極影響大大減小。
-
LS系列電容式物位開(kāi)關(guān)是利用各種物質(zhì)與空氣介電常數(shù)不同的特性原理檢測(cè)有料或無(wú)料時(shí)的
電容變化來(lái)探測(cè)物料的。為解決探測(cè)時(shí)掛料產(chǎn)生虛假信號(hào)問(wèn)題，在探測(cè)電極上加了一個(gè)等電位保護(hù)
套，使粘附層對(duì)探測(cè)電極影響大大減小。
-
LS系列電容式物位開(kāi)關(guān)是利用各種物質(zhì)與空氣介電常數(shù)不同的特性原理檢測(cè)有料或無(wú)料時(shí)的
電容變化來(lái)探測(cè)物料的。為解決探測(cè)時(shí)掛料產(chǎn)生虛假信號(hào)問(wèn)題，在探測(cè)電極上加了一個(gè)等電位保護(hù)
套，使粘附層對(duì)探測(cè)電極影響大大減小。
-
系列電容式物位開(kāi)關(guān)是利用各種物質(zhì)與空氣介電常數(shù)不同的特性原理檢測(cè)有料或無(wú)料時(shí)的
電容變化來(lái)探測(cè)物料的。為解決探測(cè)時(shí)掛料產(chǎn)生虛假信號(hào)問(wèn)題，在探測(cè)電極上加了一個(gè)等電位保護(hù)
套，使粘附層對(duì)探測(cè)電極影響大大減小。
